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陶瓷振蕩子“CERALOCK?” | FAQ | 株式會(huì)社 村田制作所

 liukai007 2011-07-20

針對(duì)振蕩子的常見(jiàn)問(wèn)題 (FAQ)

請(qǐng)說(shuō)明振蕩電路元件的作用。

電路參數(shù)的作用如下所示:

the oscillation circuit

Rf: 反饋電阻器

反饋電阻器決定了振蕩電路的偏置情況。通常情況下,C-MOS集成電路使用的反饋電阻在100KΩ~10MΩ之間 (通常為1MΩ),而TTL集成電路使用的反饋電阻則在1KΩ~10KΩ之間 (通常為4.7KΩ),其原因是TTL集成電路的I/O阻抗低。如果反饋電阻太大,反饋量就會(huì)減少,造成工作點(diǎn)不穩(wěn)定。如果反饋電阻太小,會(huì)導(dǎo)致增益減少或電流增加。目前,大多數(shù)集成電路都使用了反饋電阻器。

Rd: 阻尼電阻器

阻尼電阻器和加載電容器可以充當(dāng)?shù)屯V波器,通過(guò)減少高頻范圍內(nèi)的增益來(lái)抑制異常諧振蕩。此外,也可以限制集成電路增益,讓CERALOCK®更好的與集成電路相匹配,從而來(lái)抑制無(wú)用振鈴、過(guò)沖、下沖。在kHz頻帶內(nèi),阻尼電阻應(yīng)為幾千歐,而在MHz頻帶內(nèi),阻尼電阻應(yīng)在幾十歐至幾百歐之間??梢匀芜x阻尼電阻器。

CL1/CL2: 加載電容器

對(duì)于確定振蕩電路的穩(wěn)定性,此參數(shù)至關(guān)重要。如果負(fù)載電容過(guò)小,振蕩波形就會(huì)變形,導(dǎo)致不穩(wěn)定振蕩。相反,如果負(fù)載電容過(guò)大,振蕩就會(huì)停止。與相同集成電路比較,振蕩電路會(huì)產(chǎn)生較低的頻率,需要較大的靜電容量。

Rb: 偏置電阻器

如果集成電路增益過(guò)大或采用TTL、三相緩沖集成電路,為了減少集成電路增益或抑制不穩(wěn)定振蕩,可以使用偏置電阻器有目的地改變偏置點(diǎn)。C-MOS集成電路使用阻值為1MΩ至10MΩ的偏置電阻器,TTL使用1KΩ至10KΩ的偏置電阻器。

對(duì)于不同的集成電路和CERALOCK®,常數(shù)也不同。想了解更多詳細(xì)信息,詳情請(qǐng)與村田公司聯(lián)系。

UP

在振蕩電路中,哪類電容器可以用作加載電容器?

通常情況下,振蕩電路要求負(fù)載電容量約為3pF至2200pF,所以有很好頻率特性的陶瓷電容器十分適合作振蕩電路中的加載電容器。

CERALOCK®的振蕩頻率隨負(fù)載電容的變化而變化,因此,我公司推薦選擇高精度、具有高Q值的溫漂補(bǔ)償、溫度系數(shù)為“0”的CERALOCK® (公差為“J”,溫度特性為“CH”)。一般情況下,使用總公差為±20%的電容器不會(huì)有問(wèn)題??偣畎ǔ跏脊钜约皽囟葟?20°C升至80°C時(shí)產(chǎn)生的電容值變動(dòng)。根據(jù)所使用的集成電路的情況,可能會(huì)出現(xiàn)異常振蕩或停振的現(xiàn)象,但是這種現(xiàn)象很少見(jiàn)。

從村田公司的評(píng)價(jià)結(jié)果來(lái)看,在E6系統(tǒng)范圍內(nèi),如果負(fù)載電容比推薦的常數(shù)增加或減少了兩級(jí),但仍能產(chǎn)生穩(wěn)定的振蕩,就不會(huì)出現(xiàn)任何問(wèn)題。

由于振蕩頻率隨負(fù)載電容的變化而變化,因此,必須確定當(dāng)負(fù)載電容變化時(shí),此設(shè)備是否能正常運(yùn)轉(zhuǎn)。

UP

請(qǐng)解釋造成異常振蕩的原因,并給出相應(yīng)的對(duì)策。

  • CERALOCK®的寄生振蕩 (亂真振蕩)
  • 錯(cuò)誤的電路配線和定時(shí)誤差 (CR/LC振蕩,環(huán)振蕩)

為了區(qū)別上述兩種情況,用具有相同電容的電容器 (Cx) 代替CERALOCK®。如果是第二種原因,即使用Cx代替了CERALOCK®,電路也會(huì)產(chǎn)生正常振蕩。

找到異常振蕩的原因之后,應(yīng)該采取相應(yīng)的對(duì)策。

Cx

針對(duì)第一種原因的對(duì)策

除了能產(chǎn)生目標(biāo)振蕩頻率 (主振頻),CERALOCK®還能產(chǎn)生各種寄生振蕩 (亂真振蕩)。如果振蕩電路采用了不當(dāng)?shù)碾娐烦?shù),就會(huì)產(chǎn)生寄生振蕩。表1列舉了可以觀察到的寄生模式。

表1 不同系列產(chǎn)生的寄生振蕩頻率

CERALOCK®的系列 (主頻率) 異常振蕩頻率/模式
(1) CSBFB_J系列 (430~1250kHz) 4.5-7MHz/垂直寄生振蕩
(2) CSTCC/CSTCR/CSTCE-G系列 (2.0~12.50MHz) 基波頻率的3倍/3倍波振蕩
(3a) CSTCW/CSACW_X系列 (20~70MHz) 基波頻率/基波振蕩
(3b) CSTCW/CSACW_X系列 (20~70MHz) 基波頻率的5倍/5倍波振蕩

上述CERALOCK®系列中, (1)、 (2)、 (3b) 產(chǎn)生高于主頻率的振蕩。為了降低高頻范圍內(nèi)的增益,可以采取以下措施:

a.增加“CL” (CL1=CL2) (在E6系統(tǒng)范圍內(nèi),約增加兩級(jí))。

b.添加“Rd” (阻尼電阻器: 100KΩ~10KΩ)。

如果采用第a種措施,振蕩頻率會(huì)緩慢地降低,需要考慮對(duì)設(shè)備的影響。
如果兩種措施的“CL”和“Rd”增加的過(guò)多,振蕩就會(huì)停止。

對(duì)于 (3a),CERALOCK®產(chǎn)生低于主頻率的振蕩。因此,必須采取以下措施來(lái)增加高頻范圍內(nèi)的增益,或降低低頻范圍內(nèi)的增益。

c.降低“CL” (CL1=CL2) (在E6系統(tǒng)范圍內(nèi),約降低三級(jí))。

d.增加“Rp” (約1KΩ~100KΩ),或降低“Rf”。

Rp

如果采用第c種措施,“CL”降低過(guò)多,振蕩就會(huì)不穩(wěn)定。如果采用第d種措施,“Rf”降低過(guò)多,振蕩就會(huì)停止。

針對(duì)第二種原因的對(duì)策

以下實(shí)例顯示了使用CERALOCK®作為電容器的異常振蕩。我公司還未建立針對(duì)此異常振蕩的固定對(duì)策,如果采用的集成電路不同,有效的方法也會(huì)不同。然而,可以考慮以下對(duì)策:

e.更換“CL”

f.使“CL1”和“CL2”平衡。

g.添加“Rd.”。

h.添加“Rb”。

UP

請(qǐng)解釋造成停振的原因,并給出相應(yīng)的對(duì)策。

如果發(fā)生停振現(xiàn)象或不能進(jìn)行振蕩,應(yīng)檢查導(dǎo)致此問(wèn)題的原因,例如:CERALOCK®故障、CERALOCK®與集成電路不匹配、復(fù)位程序錯(cuò)誤等。如果此集成電路不是用作放大器,用任何方式都不能產(chǎn)生振蕩。因此,應(yīng)首先對(duì)集成電路進(jìn)行運(yùn)行檢查。檢查集成電路運(yùn)行十分簡(jiǎn)單,只需將集成電路的輸入端子接上電源或接地來(lái)檢查輸出信號(hào)是否反轉(zhuǎn)。如果集成電路用于逆變器,輸出信號(hào)必須反轉(zhuǎn)。

如果集成電路用于逆變器,但仍不能產(chǎn)生振蕩,CERALOCK® (振蕩電路) 一定有問(wèn)題。造成此問(wèn)題的原因可能是電路常數(shù)不當(dāng)或CERALOCK®有故障。如果電路常數(shù)正確,即使CERALOCK®的電特性在規(guī)定等級(jí)內(nèi)不穩(wěn)定 (例如: 諧振電阻增加很少),那么電路也會(huì)產(chǎn)生正常的振蕩。如果電路常數(shù)不當(dāng),CERALOCK®電特性的波動(dòng)就會(huì)導(dǎo)致振蕩停止。

關(guān)系到振蕩電路中CERALOCK®電特性波動(dòng)的振蕩穩(wěn)定性稱為額外增益。振蕩額外增益與CERALOCK®的“R1”有關(guān)。當(dāng)“R1”增加時(shí),額外增益減少。為了檢查振蕩穩(wěn)定性,用阻抗分析儀或網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)測(cè)量單一CERALOCK®的特性。對(duì)比有缺陷的CERALOCK®和正常CERALOCK®,可以發(fā)現(xiàn)不同的特性。如果停振現(xiàn)象發(fā)生溫度改變時(shí),用干燥機(jī)或冷凍機(jī)改變溫度,再檢查CERALOCK®的特性。

如果CERALOCK®沒(méi)有異常,發(fā)生了或很可能發(fā)生停振現(xiàn)象,其原因可能是電路常數(shù)不當(dāng)。這種情況下,應(yīng)核對(duì)電路常數(shù),因?yàn)閷?duì)于不同的集成電路,其電路常數(shù)會(huì)有很大變化。在電路常數(shù)中,負(fù)載電容“CL” (CL1/CL2) 非常重要。如果負(fù)載電容過(guò)高,電路增益就會(huì)減少。相反,如果負(fù)載電容過(guò)低,電路就不能產(chǎn)生合適的相差,也會(huì)造成額外增益減少。要檢查此參數(shù),就得測(cè)量負(fù)載電容的振幅特性。為此,在1/10至10倍這個(gè)范圍內(nèi),改變“CL” (CL1=CL2) 的標(biāo)準(zhǔn)值 (例: 有3個(gè)端子的產(chǎn)品的電容),觀察輸入 (V1) 振幅的變化。當(dāng)負(fù)載電容合適時(shí),觀察最大振幅。

如果反饋電阻 (Rf) 過(guò)大,當(dāng)印刷電路板的絕緣電阻由于某種原因減小時(shí),反饋就會(huì)停止,導(dǎo)致振蕩停止。此現(xiàn)象是由不穩(wěn)定的直流偏壓造成的。為了找到原因,拆除CERALOCK®,再使用探測(cè)器測(cè)量偏壓,此探測(cè)器應(yīng)與集成電路輸出端子相連。就會(huì)發(fā)現(xiàn),偏壓幾乎與VDD相同,但是正常情況下,偏壓應(yīng)為VDD/2。

當(dāng)振蕩電路增加阻值約為1MΩ時(shí),外部反饋電阻就可以解決此問(wèn)題。

UP

請(qǐng)解釋靜噪措施。

CERALOCK®的Q值低于石英振蕩子,此外,CERALOCK®可以在端子之間產(chǎn)生大電容。因此,影響CERALOCK®的噪聲 (不必要的電磁噪聲) 低于石英振蕩子。如果CERALOCK®的噪聲問(wèn)題仍然存在,可以通過(guò)改變振蕩電路的常數(shù)將噪聲抑制在特定范圍。為此,通常使用如下三種方法:

增加負(fù)載電容

如果增加了負(fù)載電容,就會(huì)增強(qiáng)低通濾波器的效果,從而減小微波噪音。因此,振蕩頻率也會(huì)稍微降低。如果負(fù)載電容增加過(guò)大,振蕩就會(huì)停止。

增加阻尼電阻器 (Rd)

增加阻尼電阻器會(huì)進(jìn)一步增加負(fù)載電容,增強(qiáng)低通濾波器的效果,糾正CERALOCK®與集成電路的配合,進(jìn)而抑制反射振鈴。此外,此方法可以減少電流消耗,抑制噪音。如果阻尼電阻增加過(guò)多,振蕩就會(huì)停止。

在負(fù)載電容與地之間安裝鐵氧體磁珠

安裝鐵氧體磁珠可以降低微波增益,抑制噪音。如果鐵氧體磁珠造成的感應(yīng)系數(shù)或損耗過(guò)大,振蕩就會(huì)停止或發(fā)生異常振蕩現(xiàn)象。

即使用上述三種方式來(lái)抑制噪音,也可能是無(wú)效的,因?yàn)椴煌募呻娐泛虲ERALOCK®會(huì)影響噪音的抑制效果。特別是針對(duì)三次泛音的CERALOCK®,其電路常數(shù)產(chǎn)生很少額外增益,因此,必須全面地考慮電路常數(shù)。

UP

請(qǐng)解釋經(jīng)常產(chǎn)生異常振蕩情況的集成電路,并給出原因。

關(guān)于采用CERALOCK®的振蕩電路逆變器,推薦選擇非緩沖型 (4069UB/74HCU04,由C-MOS單級(jí)逆變器組成)。雖然三級(jí)緩沖型 (4049/4011/74HC04,由三級(jí)逆變器組成) 或施密特觸發(fā)器也可產(chǎn)生振蕩,不推薦此類型,因?yàn)榇祟惸孀兤鹘?jīng)常產(chǎn)生異常振蕩。產(chǎn)生異常振蕩的原因是三級(jí)緩沖型和施密特觸發(fā)器型會(huì)產(chǎn)生極高的增益,因此電路“CR”、配線“LC”產(chǎn)生的振蕩或由門信號(hào)延遲時(shí)間造成的環(huán)形振蕩會(huì)疊加在CERALOCK®波形上。如果采用合適的電路常數(shù),CR、LC、環(huán)形振蕩會(huì)在某種程度上減小,但不可能完全消除。

由于振蕩電路決定了時(shí)鐘頻率,因此它是裝置的心臟。不推薦使用“與非”門、“或非”門集成電路,因?yàn)榇祟愲娐肥侨?jí)緩沖型。如果將此類電路用于振蕩電路,會(huì)經(jīng)常發(fā)生異常振蕩現(xiàn)象。為了控制振蕩開(kāi)/關(guān)狀態(tài),要控制振蕩電路的輸出,而不是安裝電路控制芯片。為此,經(jīng)全面的考慮,必須準(zhǔn)備專用的振蕩電路,而不是用剩余電路控制芯片來(lái)制作振蕩電路,也不是安裝開(kāi)/關(guān)控制裝置。

最近,振蕩電路也可采用裝有兩個(gè)緩沖門的集成電路。

振蕩開(kāi)/關(guān)

經(jīng)常產(chǎn)生異常振蕩的電路
三級(jí)緩沖集成電路
在振蕩回路中,有開(kāi)/關(guān)控制裝

振蕩開(kāi)/關(guān)

產(chǎn)生穩(wěn)定振蕩的電路
非緩沖集成電路
在振蕩回路中,沒(méi)有開(kāi)/關(guān)控制裝置

UP

什么是“居里點(diǎn)”?

隨著壓電溫度的升高,在某一溫度 (相變點(diǎn)),四方晶系會(huì)變成立方晶系。此溫度被稱為“居里點(diǎn)”或“居里溫度”。當(dāng)四方晶系變?yōu)榱⒎骄禃r(shí),此材料就會(huì)失去壓電。因此,一旦壓電材料暴露于高于居里點(diǎn)的溫度,即使溫度恢復(fù)到室溫,壓電性也不會(huì)恢復(fù)。這種狀態(tài)稱為偶極。要想恢復(fù)壓電性,必須利用高直流電壓對(duì)材料進(jìn)行極化。

UP

什么是“寄生振蕩”?

大體上,可將CERALOCK®分為兩種系列: kHz頻帶和MHz頻帶系列。產(chǎn)品類別由振動(dòng)模式?jīng)Q定。但是,任何類型的CERALOCK®產(chǎn)生的振蕩頻率 (寄生振蕩) 不同于主振頻。具有寄生頻率的振蕩稱為寄生振蕩??衫米杩狗治鰞x (如HP4294,由安捷倫科技有限公司制造) 對(duì)寄生振蕩情況進(jìn)行檢查。

通常,任何類型的振蕩子都產(chǎn)生奇位數(shù)泛音頻率。然而,除了那些擁有三次泛音頻率的CERALOCK® (例如: CSTCW/CSACW_X系列),由于泛音頻率的關(guān)系,CERALOCK®很少產(chǎn)生寄生振蕩。

可以通過(guò)測(cè)量振蕩頻率,來(lái)檢查泛音頻率造成的寄生振蕩。如果振蕩頻率接近目標(biāo)頻率的三倍,則認(rèn)為是三次泛音頻率的寄生振蕩。

如果使用CSTCW/CSACW_X系列,可以觀察到基波 (1/3頻率) 或五次波 (5/3頻率) 寄生振蕩的現(xiàn)象,因?yàn)槿畏阂粽袷庮l率與目標(biāo)振蕩頻率相同。

UP

請(qǐng)解釋除了寄生振蕩的其他異常振蕩現(xiàn)象,并給出檢查方法。

根據(jù)不同的電路類型,振蕩電路會(huì)自動(dòng)產(chǎn)生異常振蕩。為了區(qū)別振蕩電路產(chǎn)生的異常振蕩和CERALOCK®的寄生振蕩,必須讀取頻率計(jì)上的讀數(shù)來(lái)檢查此讀數(shù)是否與寄生振蕩模式的頻率相同,或通過(guò)改變供電電壓來(lái)檢查頻率變化是否超過(guò)±1%。
以下表格列舉了經(jīng)常出現(xiàn)的異常振蕩。

振蕩類型 原因
CR振蕩 當(dāng)集成電路增益很高時(shí),會(huì)產(chǎn)生CR振蕩。此現(xiàn)象取決于CERALOCK®的靜電電容 (Cf)、負(fù)載電容 (CL) 以及集成電路的內(nèi)電阻 (R)。如果供電電壓發(fā)生變化,頻率也會(huì)不同。
LC振蕩 當(dāng)集成電路增益很高時(shí),會(huì)產(chǎn)生LC振蕩。此現(xiàn)象取決于配線的電導(dǎo)率 (C) 和感應(yīng)系數(shù) (L)。通常,其振蕩頻率為10MHz或更高。如果配線發(fā)生變化,頻率也會(huì)不同。
環(huán)形振蕩 環(huán)形振蕩由多級(jí)逆變器集成電路中的時(shí)間常數(shù)延遲造成。通常,其振蕩頻率為10MHz或更高。

檢查是否存在異常振蕩

可采用以下方法檢查電路中是否存在異常振蕩:

A.振蕩開(kāi)始時(shí)進(jìn)行測(cè)量,在測(cè)量過(guò)程中,改變供電電壓或電路常數(shù)。
如果產(chǎn)生異常振蕩,振蕩開(kāi)始后,波形會(huì)不穩(wěn)定。

B.打開(kāi)或關(guān)閉電源
當(dāng)打開(kāi)電源時(shí),會(huì)出現(xiàn)異常振蕩。

C.將供電電壓從0V逐漸增加
此方法適用于三次泛音頻率的振蕩子 (如CSTCW/CSACW_X系列)。如果供電電壓低,振蕩開(kāi)始于基波。然而,當(dāng)供電電壓達(dá)到目標(biāo)電壓時(shí),仍是基波。

D.用干燥機(jī)或冷凍機(jī)升高或降低工作溫度
如果電路溫度降低或升高,很容易產(chǎn)生異常振蕩。

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